单倍和双倍放大光学器件非常适合高精度高速测量

  Benchmark、Pinnacle 和 Summit 系统可配置单倍固定镜头光学系统或独特的双倍光学系统。这两种装置都提供光学可互换前物镜,使放大倍率和视场大小与被测量的特征相匹配。

  单倍放大系统很简单,提供的光学分辨率与配备标准物镜的百万像素数码相机非常匹配。该系统非常适合对具有许多相似特征的零件进行高速测量,一次放大就足够了。

  双放大系统利用两个完整的光路,每个光路都有自己的相机。高放大倍率路径是低放大倍率的 4 倍,提供瞬时变焦能力以获得更高的光学分辨率。该系统非常适合测量不同特征需要宽视野和高精度的零件。双放大系统也是需要最佳自动对焦性能的应用的理想选择。

  固定光学系统提供区域多焦点 (AMF) 和连续图像捕获 (CIC) 等独家技术。

  AMF 通过正常的自动对焦通道创建高分辨率 3D 数据集,为单点激光表面扫描提供高通量替代方案。还可以同时创建扩展景深图像 (EDFI),以提供通过视野完全聚焦的图像。 AMF 和 EDFI 可在 VMS 和 ZONE3 计量软件中使用。

  CIC 同步照明与相机帧采集和载物台移动,以不间断地获取视频图像。对于具有密集功能的元件,与标准移动和测量技术相比,吞吐量通常提高 50% 至 200%。 CIC 可在 VMS 和 Elements 计量软件中使用。

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