轴类测量机是一种专门用于测量轴类零件几何参数的精密仪器，其测量原理主要基于光学干涉和衍射现象。以下是轴类测量机测量原理的具体描述，一起跟着小编来了解一下吧!

　　光学干涉原理

　　光学轴类测量仪的工作原理主要利用了光学干涉的原理。其主要部件包括光源、参照平面、待测物体和干涉仪等。具体工作原理如下：

　　光源：垂直于参照平面的光源照射在待测零件的表面上，形成一束平行光。

　　参照平面：参照平面是一个光学平面，通常是平行于待测零件的一个标准平面，用于确定测量坐标系。

　　待测物体：待测零件放置在参照平面上，光线穿过待测零件并射出。

　　干涉仪：干涉仪分为两种，分别是型式干涉仪和分光干涉仪。通过给出的光程差和知道了光的波长，就可以知道当前测量的长度。型式干涉仪，则是通过不同物距产生不同像距，得到干涉图模式，然后，通过比较模式的不同来确定位移距离。分光干涉仪，则是将干涉模式通过分光装置分出不同波长。通过识别干涉图像中的条纹数量和暗纹跳变，计算出待测物体表面的高度、角度和位置等几何参数。

　　图像处理技术

　　光学轴类测量机还利用高精度的图像处理技术来获取零件的尺寸和形位公差。这种测量方式无需接触零件，从而避免了传统测量中可能带来的损伤和变形，确保了测量结果的准确性。通常由光源、成像系统、图像采集卡、数据处理软件等部分组成。光源照射在被测轴类零件上，成像系统捕捉零件的影像，图像采集卡将影像转换为数字信号，随后由数据处理软件进行分析，计算出零件的尺寸和形位公差。

　　主要组成部分

　　光学轴类测量机通常由以下几个主要部分组成：

　　光学系统：包括照明光源、光学镜头和投影屏幕。照明光源提供均匀的照明条件，光学镜头将被测物体的图像放大并投影到屏幕上，投影屏幕用于显示被测物体的轮廓图像。

　　测量台：用于固定和调整被测轴类零件的位置，使其处于最佳的测量状态。测量台通常具有X、Y、Z三个方向的调节功能，以实现精确的定位。

　　光电传感器：将投影屏幕上的图像信息转换为电信号。常用的光电传感器包括CCD相机和光电倍增管等。

　　数据处理系统：包括计算机和专用测量软件。计算机用于接收和处理光电传感器输出的信号，测量软件则用于计算和显示被测零件的尺寸参数和形状误差。

　　控制系统：用于控制测量台的移动和光电传感器的运作，确保测量过程的自动化和精确化。

　　综上所述，轴类测量机的测量原理主要是通过光学干涉和图像处理技术，结合精密的光学系统、测量台、光电传感器和数据处理系统，实现对轴类零件的高精度、非接触式测量。